蔡司掃描電鏡Sigma300電子掃描顯微鏡用于高品質成像與高級分析的場發射掃描電子顯微鏡，靈活的探測，4步工作流程，高級的分析性能，將高級的分析性能與場發射掃描技術相結合，利用成熟的 Gemini 電子光學元件。
  多種探測器可選：用于顆粒、表面或者納米結構成像。Sigma 半自動的4步工作流程節省大量的時間：設置成像與分析步驟，提高效率。
  蔡司掃描電鏡Sigma300性價比高。Sigma 500 裝配有一流的背散射幾何探測器，可快速方便地實現基礎分析。任何時間，任何樣品均可獲得精準可重復的分析結果。