身為無損3D成像系統特性的，蔡司公布了新的顯微CT(microCT)體系XradiaCrystalCTM，使工業與科研實驗室可以實現各類金屬材料和合金材料、增材制造、瓷器及其藥物試品與其他多晶原材料三維晶體顯像帶來了解決方法。 蔡司CT體系XradiaCrystalCT是在以往CT的前提下設計的，致力于帶來衍射比照新層掃描(DCT)顯像，這便是DCT技術在世界范圍內商業化，它容許科研人員將3D晶體學信息和吸收比照斷層掃描數據信息巧妙地結合在一起，7eissXradiaCrvstalCT是蔡司與實驗室衍射顯像先行者XnovoTechnologyApS合作開發的新Xradia平臺，帶來DCT顯像。7eissXradiaCrvstalCT是一種基干微米CT的商用型實驗室衍射比照斷層掃描(DCT)體系，跟傳統的破壞性3D晶體顯像方式相比較，無縫體積大品粒顯像使實驗信息量更具有象征性。前沿的收集方式，可以實現隨意組合掃描，迅速精準獲得3D顆粒數據信息。前沿的數據收集方式，可以通過無針掃描方式迅速準確地獲得3D顆粒數據信息。 大規格樣品的顯像水平降低了實驗室中的諸多限定，能夠解析大量的試品種類和更低的樣品制備時長，進而減少整體分析時長。更高效的收集速率能夠減少試品運行時間，進而提升實驗室解析效率。對金屬材料等材料的晶體結構開展顯像并量化分析原材料里的晶體取向的能力有利于干了解和改進材料性能。微米蔡司CT無損顯像的特征推動了對可控外場條件下原位微結構演變的認知。